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深入淺出SSD測試

深入淺出SSD測試

定  價:99 元

        

  • 作者:阿倫[等]著
  • 出版時間:2025/6/1
  • ISBN:9787111780601
  • 出 版 社:機械工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TP333 
  • 頁碼:20,352頁
  • 紙張:
  • 版次:
  • 開本:24cm
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本書共包含9章的內(nèi)容。SSD測試概述(第1章),介紹SSD和SSD測試相關(guān)的基礎(chǔ)知識。(第2-5章),首先基于立項、計劃、設(shè)計與開發(fā)、執(zhí)行、總結(jié)這幾個階段介紹SSD測試的主要工作內(nèi)容及對應(yīng)實現(xiàn)方法,然后分享SSD測試的分類以及不同類型測試的設(shè)計與實現(xiàn)方法,最后解讀SSD的通用測試平臺、測試軟件和專用測試平臺。(第6章),剖析用于主控芯片測試的主要軟硬件平臺,及在對應(yīng)平臺上進行主控芯片測試的方法。閃存測試(第7章),深入分析閃存的失效模式,以及閃存測試的主要方法。測試認證(第8章),完整解讀業(yè)界主要的SSD認證測試項目,包括PCI-SIG、UNH-IOL、WHQL以及國內(nèi)測試標準等。儀器與設(shè)備(第9章),重點介紹用于SSD測試的儀器設(shè)備,包括RDT可靠性測試設(shè)備、協(xié)議分析儀等。
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