材料成型及控制工程是先進制造學科的重要組成部分，先進的分析方法與技術(shù)是開展先進材料成形必不可少的手段，是提高材料成形質(zhì)量的重要保障，應(yīng)變分析技術(shù)是基于這一發(fā)展需求而發(fā)展的。本書是作者多年科研實踐及教學經(jīng)驗的總結(jié)，是國內(nèi)材料科學與工程領(lǐng)域論述光學應(yīng)變測量理論與應(yīng)用的學術(shù)著作。 本書可供高等院校材料成型類、模具設(shè)計類，材料
數(shù)字測量是測量技術(shù)未來發(fā)展的重要方向之一，但頻率信號的數(shù)字化測量卻不能采用通用的采樣方法。本書基于作者的最新研究成果，給出了基于數(shù)字采樣進行頻率測量的完善解決方法，這是當前精密頻率測量領(lǐng)域的尖端技術(shù)。在對傳統(tǒng)方法的優(yōu)缺點分析基礎(chǔ)上，重點介紹了當前測量精度最高的幾種精密頻率的數(shù)字測量方法及誤差校準方法。最后對本領(lǐng)域的最新
為了使學生全面、系統(tǒng)地了解時間頻率的基礎(chǔ)知識，培養(yǎng)學生在時間頻率方面的基本研究能力，使學生掌握從事時間頻率方面工程建設(shè)的基礎(chǔ)技能，作者團隊在十余年講授時間頻率理論與應(yīng)用課程的基礎(chǔ)上，對講義進行系統(tǒng)整理而形成本書。書中系統(tǒng)介紹時間頻率方面的基礎(chǔ)理論，主要包括時間的測量與傳遞、原子鐘原理與實現(xiàn)、天文時間基準觀測和國家標準時
本書從力值、振動、轉(zhuǎn)速力學專用計量器具?建材力學專用計量器具?以及其他力學專用計量器具等 方面的計量測試出發(fā)?針對力學專用計量器具的測量方法、測量環(huán)境、測量用標準器、測量過程中遇到的 各種問題及其解決方法進行了扼要闡述?并對測量結(jié)果的不確定度分析與評定辦法進行了詳細分析?旨 在培養(yǎng)力學計量專業(yè)領(lǐng)域的計量檢定校準人
氣體標準物質(zhì)是計量體系的重要組成部分。本書共分兩大部分。第一部分重點講述了氣體標準物質(zhì)概念，包括：氣體標準物質(zhì)的作用意義、氣體標準物質(zhì)的定義、分類、發(fā)展歷史及現(xiàn)狀、計量溯源性、制備方法和使用方法等。第二部分重點講述了稱量法研制氣體標準物質(zhì)，包括：稱量法制備技術(shù)概述、關(guān)鍵設(shè)備、制備前的準備、氣體分析方法的選擇與確認、氣瓶
《中國度量衡史》是中央編譯出版社編譯中國學術(shù)系列叢書中的經(jīng)典著作，作者是計量學家吳承洛�！吨袊攘亢馐贰返木帉懘蠹s始于1934年，是中國第一部度量衡通史專著，論述了中國歷代度量衡制度的標準及變遷，其最大特點是引用古籍資料齊全，條理清晰�？梢哉f，這本書建立起了中國度量衡史體系，是研究中國度量衡史的參考書籍。
本書主要圍繞半導體制造、量子信息、生物、數(shù)字化四個板塊，每個板塊分為國際戰(zhàn)略政策觀察和國際計量技術(shù)發(fā)展態(tài)勢分析兩個部分。其中，國際戰(zhàn)略政策觀察部分密切跟蹤2022-2023年期間，全球主要國家的重大戰(zhàn)略和政策，通過政策綜述的方式，揭示各國的戰(zhàn)略動向及政策著力點；國際計量技術(shù)發(fā)展態(tài)勢分析部分，深度追蹤國際主要計量機構(gòu)或國
《現(xiàn)代測試技術(shù)》是筆者在多年教學經(jīng)驗的基礎(chǔ)上并參考了國內(nèi)外同類優(yōu)秀教材及文獻編著而成。內(nèi)容上圍繞材料的結(jié)構(gòu)、化學組成及微觀形貌的表征，設(shè)置了晶體學基礎(chǔ)、X射線衍射技術(shù)、透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡及電子探針、紅外光譜和拉曼光譜等幾個部分，主要介紹了材料測試的各種技術(shù)方法的基本原理、儀器結(jié)構(gòu)構(gòu)造及應(yīng)用，涵蓋新方法、新技
光學測試技術(shù)是利用光學方法測量光學量與非光學量的一門應(yīng)用技術(shù)的學科。它的內(nèi)容隨著科學技術(shù)和工藝水平的發(fā)展，變得越來越豐富。當代的電子技術(shù)、激光技術(shù)、傳感器技術(shù)以及計算機技術(shù)日新月異，并且快速的應(yīng)用到光學測量領(lǐng)域中，使得現(xiàn)代光學測試技術(shù)早已成為一門多領(lǐng)域交叉融合的綜合學科。本書主要內(nèi)容：首先介紹了光學測量的基本知識；然后
本書是介紹納米計量的發(fā)展現(xiàn)狀、相關(guān)技術(shù)及其在多個產(chǎn)業(yè)中應(yīng)用的一本技術(shù)專著，來源于筆者及所在實驗室同仁們在納米計量領(lǐng)域的研究工作。本書以納米計量為主線，主要包括技術(shù)和應(yīng)用兩大部分。在技術(shù)部分主要介紹了納米計量的基本內(nèi)容以及涉及的納米檢測技術(shù)；在應(yīng)用部分主要選取納米計量在先進制造產(chǎn)業(yè)、生物醫(yī)藥產(chǎn)業(yè)、微電子與集成電路產(chǎn)業(yè)的典
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