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現(xiàn)代測試技術(shù)

現(xiàn)代測試技術(shù)

定  價(jià):54 元

        

  • 作者:陳潔渝等編著
  • 出版時(shí)間:2024/8/1
  • ISBN:9787562559313
  • 出 版 社:中國地質(zhì)大學(xué)出版社
  • 中圖法分類:TB9 
  • 頁碼:300頁
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:19cm
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《現(xiàn)代測試技術(shù)》是筆者在多年教學(xué)經(jīng)驗(yàn)的基礎(chǔ)上并參考了國內(nèi)外同類優(yōu)秀教材及文獻(xiàn)編著而成。內(nèi)容上圍繞材料的結(jié)構(gòu)、化學(xué)組成及微觀形貌的表征,設(shè)置了晶體學(xué)基礎(chǔ)、X射線衍射技術(shù)、透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡及電子探針、紅外光譜和拉曼光譜等幾個(gè)部分,主要介紹了材料測試的各種技術(shù)方法的基本原理、儀器結(jié)構(gòu)構(gòu)造及應(yīng)用,涵蓋新方法、新技術(shù)和新進(jìn)展,重視理論與實(shí)踐相結(jié)合。形式上設(shè)置導(dǎo)讀、正文、小結(jié)、思考題及練習(xí)題,便于讀者抓住重點(diǎn)、梳理結(jié)構(gòu)、復(fù)習(xí)和鞏固,從而更好的掌握所學(xué)內(nèi)容。
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