本書是面對當(dāng)前大數(shù)據(jù)應(yīng)用、可視分析研究和應(yīng)用的新形勢，專門為數(shù)據(jù)科學(xué)與大數(shù)據(jù)技術(shù)、智能科學(xué)與技術(shù)、計(jì)算機(jī)、數(shù)據(jù)處理等專業(yè)本科生開設(shè)數(shù)據(jù)可視化課程而編寫的一本教材。該書將教學(xué)之嚴(yán)謹(jǐn)和科研之創(chuàng)新有機(jī)地結(jié)合，全面詮釋了大數(shù)據(jù)可視化的內(nèi)涵與外延，詳細(xì)介紹了大數(shù)據(jù)可視化概述、可視化的類型與模型、數(shù)據(jù)可視化基礎(chǔ)、數(shù)據(jù)可視化的常用方

本書是深度學(xué)習(xí)的入門教材，系統(tǒng)地介紹了深度學(xué)習(xí)的基本概念與實(shí)戰(zhàn)應(yīng)用，包括深度學(xué)習(xí)在圖像、語音、文本方向的應(yīng)用，以及前沿發(fā)展等。本書分為10章，大致為3個(gè)部分：第1部分（1-3章）介紹深度學(xué)習(xí)的基礎(chǔ)知識。第2部分（4-6章）介紹深度學(xué)習(xí)的各個(gè)方面，從算法設(shè)計(jì)到模型實(shí)現(xiàn)。第3部分（8-10章）介紹深度學(xué)習(xí)的實(shí)戰(zhàn)應(yīng)用以及前沿

本書共分11章，包括緒論、被控過程的數(shù)學(xué)模型、過程控制參數(shù)檢測與變送、過程控制儀表、過程控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)、簡單控制系統(tǒng)的設(shè)計(jì)、常用高性能控制系統(tǒng)、實(shí)現(xiàn)特殊要求的過程控制系統(tǒng)、復(fù)雜過程控制系統(tǒng)、網(wǎng)絡(luò)化過程控制系統(tǒng)、典型生產(chǎn)過程控制與工程設(shè)計(jì)等。本書借助二維碼技術(shù)，給出大量的視頻、圖片、Word文檔等資料，對相關(guān)知識點(diǎn)內(nèi)容進(jìn)行

本書充分吸收來自生產(chǎn)一線的工業(yè)機(jī)器人系統(tǒng)案例，融入職業(yè)技能鑒定的相關(guān)內(nèi)容和要求，體現(xiàn)了理實(shí)一體的教學(xué)原則。本書案例源于實(shí)際，制作的資源可直接用于機(jī)器人仿真及離線編程教學(xué)。教材內(nèi)容基本涵蓋了工業(yè)機(jī)器人主要應(yīng)用領(lǐng)域。

本書根據(jù)EDA課程教學(xué)要求，以提高數(shù)字設(shè)計(jì)能力為目的，系統(tǒng)闡述FPGA數(shù)字系統(tǒng)開發(fā)的相關(guān)知識，主要內(nèi)容包括EDA技術(shù)概述、FPGA/CPLD器件、VHDL硬件描述語言等。全書以QuartusPrime、ModelSim等軟件為平臺，以VHDL’87和VHDL’93語言標(biāo)準(zhǔn)為依據(jù)，基于DE2-115實(shí)驗(yàn)平臺，以可綜合的設(shè)

本選題中的所有題目都來源于英國近幾年小學(xué)數(shù)學(xué)畢業(yè)測試題，這些測試題經(jīng)過作者的整理與翻譯后，形成了一本與我國小學(xué)數(shù)學(xué)知識點(diǎn)相對應(yīng)的習(xí)題集。例如：英國的小學(xué)數(shù)學(xué)畢業(yè)測試題的知識點(diǎn)有的跟我國小學(xué)數(shù)學(xué)四年級知識點(diǎn)相對應(yīng)；有的跟五年級的知識點(diǎn)相對應(yīng)；有的跟六年級的知識點(diǎn)相對應(yīng)。這些看似簡單的測試題，在解題的過程中會(huì)發(fā)現(xiàn)其實(shí)它并不

本書根據(jù)求是公司推出的PCT系列過程控制系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)裝置的相關(guān)內(nèi)容進(jìn)行編寫。按照教學(xué)大綱的要求，根據(jù)典型的工業(yè)過程中壓力、流量、液位、溫度等過程量的控制，進(jìn)行工業(yè)過程控制系統(tǒng)的實(shí)踐模擬與仿真，可以滿足“過程控制”、“過程檢測及儀表”、“自動(dòng)控制理論”、“計(jì)算機(jī)控制”、“化工儀表及自動(dòng)化”、“傳感器原理及應(yīng)用”等課程的實(shí)驗(yàn)教

工業(yè)機(jī)器人現(xiàn)場編程(川崎)

本書結(jié)合國內(nèi)信息環(huán)境特點(diǎn)，系統(tǒng)分析了數(shù)據(jù)質(zhì)量以及數(shù)據(jù)全生命周期質(zhì)量管理的內(nèi)涵，構(gòu)建了數(shù)據(jù)質(zhì)量研究和數(shù)據(jù)清洗系統(tǒng)框架，并引入了數(shù)據(jù)質(zhì)量管理的并行發(fā)展模式；深入研究了實(shí)體分辨、不完整數(shù)據(jù)、不一致數(shù)據(jù)三類實(shí)例層數(shù)據(jù)質(zhì)量問題的數(shù)據(jù)清洗技術(shù)，提出了若干數(shù)據(jù)清洗技術(shù)方法；歸納了數(shù)據(jù)質(zhì)量工具的發(fā)展概況，提出了兩種數(shù)據(jù)質(zhì)量工具設(shè)計(jì)方法