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第1章機(jī)器視覺光學(xué)成像理論基礎(chǔ)
1.1引言
1.2表面缺陷散射電磁理論
1.2.1FDTD方法基本原理
1.2.2基于FDTD方法的表面缺陷電磁散射仿真模型
1.2.3表面缺陷遠(yuǎn)場(chǎng)電磁分布求解方法
1.3表面缺陷電磁散射數(shù)值模擬
1.3.1表面缺陷散射仿真建模
1.3.2表面缺陷散射仿真結(jié)果分析
1.3.3基于散射光強(qiáng)分布特征的缺陷尺寸逆向識(shí)別原理
1.4表面缺陷散射輻度學(xué)理論
1.4.1基于輻度學(xué)的散射場(chǎng)表征方法
1.4.2典型缺陷散射模型
1.4.3有限孔徑內(nèi)的散射強(qiáng)度
1.4.4表面缺陷暗場(chǎng)散射仿真分析
1.5光線追跡成像原理
1.5.1光學(xué)元件表面面型的數(shù)學(xué)表征
1.5.2像函數(shù)與光線追跡路線
1.5.3基于蒙特卡羅數(shù)值積分的輻度學(xué)參數(shù)求解
1.6光線追跡成像建模與求解
1.6.1小孔相機(jī)成像模型
1.6.2有限口徑相機(jī)成像模型
1.6.3光線追跡成像模型的求解方法
1.6.4基于光線追跡的機(jī)器視覺成像仿真
參考文獻(xiàn)
第2章不同屬性表面的照明及光學(xué)成像系統(tǒng)選型
2.1基于缺陷散射特性的顯微散射暗場(chǎng)照明系統(tǒng)研究
2.1.1光學(xué)表面的散射源
2.1.2劃痕的散射特性及信息收集
2.1.3顯微散射暗場(chǎng)成像照明光源相關(guān)參數(shù)研究
2.1.4基于柯拉照明的均勻照明光源設(shè)計(jì)方法
2.2大口徑光滑表面顯微散射暗場(chǎng)系統(tǒng)布局
2.2.1光學(xué)顯微散射暗場(chǎng)成像檢測(cè)技術(shù)
2.2.2雙倍率檢測(cè)方案與子孔徑掃描拼接技術(shù)
2.2.3標(biāo)準(zhǔn)缺陷數(shù)字化標(biāo)定技術(shù)
2.3復(fù)雜屬性的光學(xué)元件表面的微弱缺陷的照明及檢測(cè)
2.3.1單面拋光的光學(xué)元件表面屬性分析和成像分析
2.3.2同軸入射遠(yuǎn)心明場(chǎng)成像系統(tǒng)組成及成像特征分析
2.3.3基于視覺差勵(lì)與雙次離散傅里葉變換的微弱缺陷提取算法研究
2.3.4藍(lán)寶石襯底基片微弱劃痕的檢測(cè)技術(shù)應(yīng)用
2.4復(fù)雜紋理的金屬圓弧表面的微弱缺陷的照明及檢測(cè)
2.4.1復(fù)雜紋理的金屬圓弧表面屬性分析和成像分析
2.4.2多角度入射遠(yuǎn)心明場(chǎng)成像系統(tǒng)組成及系統(tǒng)成像特征分析
2.4.3復(fù)雜金屬弧面中微弱缺陷的檢測(cè)技術(shù)應(yīng)用
參考文獻(xiàn)
第3章光澤表面、光滑表面的光照?qǐng)鼍敖�模和像函�?shù)求解
3.1光澤表面成像建模
3.1.1全自動(dòng)漆面質(zhì)量檢測(cè)建模
3.1.2條紋光掃描疵病檢測(cè)原理
3.1.3場(chǎng)景建模和像函數(shù)求解
3.1.4基于圖像融合的疵病檢測(cè)方法
3.1.5仿真場(chǎng)景示例
3.1.6光學(xué)反射面條紋光融合成像實(shí)驗(yàn)
3.2光滑表面成像建模
3.2.1自動(dòng)化曲面表面檢測(cè)設(shè)備
3.2.2暗場(chǎng)檢測(cè)原理
3.2.3暗場(chǎng)檢測(cè)布局建模
3.2.4光滑單透鏡暗場(chǎng)成像仿真
3.2.5光滑單孔徑無盲區(qū)融合檢測(cè)
3.2.6球面透鏡單孔徑無盲區(qū)暗場(chǎng)融合成像實(shí)驗(yàn)
參考文獻(xiàn)
第4章球面光學(xué)元件表面缺陷檢測(cè)方法研究
4.1球面子孔徑規(guī)劃
4.1.1球面孔徑成像過程分析
4.1.2三維子孔徑掃描
4.1.3經(jīng)緯線掃描軌跡
4.1.4球面子孔徑規(guī)劃
4.2子孔徑規(guī)劃仿真
4.2.1SOM子孔徑規(guī)劃仿真
4.2.2SOP子孔徑規(guī)劃仿真
4.2.3SOM與SOP規(guī)劃結(jié)果評(píng)估
4.3基于投影變換的大口徑球面子孔徑拼接方法
4.3.1基于小孔成像的子孔徑三維矯正
4.3.2球面子孔徑全局坐標(biāo)變換
4.3.3三維子孔徑在投影平面上的全口徑拼接
4.3.4球面表面缺陷全景圖像生成
4.3.5球面表面缺陷定量化評(píng)價(jià)
4.4球面子孔徑拼接誤差分析
4.4.1轉(zhuǎn)動(dòng)機(jī)構(gòu)轉(zhuǎn)角誤差的影響
4.4.2平移導(dǎo)軌定位誤差的影響
4.5多軸掃描系統(tǒng)運(yùn)動(dòng)及誤差的分析與建模
4.5.1多體系統(tǒng)理論概述
4.5.2理想運(yùn)動(dòng)的變換矩陣
4.5.3實(shí)際運(yùn)動(dòng)中的變換矩陣
4.5.4拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)、低序體陣列
4.5.5特征矩陣、理想運(yùn)動(dòng)矩陣與實(shí)際運(yùn)動(dòng)矩陣
4.5.6誤差項(xiàng)物理意義辨識(shí)及實(shí)際運(yùn)動(dòng)特征矩陣簡(jiǎn)化
4.5.7球面子孔徑掃描誤差模型
4.5.8理想掃描軌跡曲線
4.5.9各誤差項(xiàng)對(duì)掃描軌跡及拼接影響分析
4.5.10實(shí)際掃描軌跡仿真及誤差優(yōu)化
4.6高次曲面表面疵病檢測(cè)儀
4.6.1高次曲面表面疵病檢測(cè)儀原理
4.6.2檢測(cè)系統(tǒng)機(jī)構(gòu)布局組成
4.6.3非球面檢測(cè)示例
參考文獻(xiàn)
第5章深度學(xué)習(xí)在工業(yè)化智能檢測(cè)中的應(yīng)用
5.1應(yīng)用于機(jī)器視覺中圖像識(shí)別的深度學(xué)習(xí)模型
5.1.1基于機(jī)器視覺的光學(xué)元件表面缺陷智能檢測(cè)應(yīng)用的研究現(xiàn)狀
5.1.2經(jīng)典深度學(xué)習(xí)模型： 目標(biāo)識(shí)別網(wǎng)絡(luò)模型及語義分割網(wǎng)絡(luò)模型
5.2深度學(xué)習(xí)在光學(xué)玻璃表面缺陷檢測(cè)中的在線智能檢測(cè)應(yīng)用
5.2.1基于多種成像場(chǎng)的玻璃表面缺陷光學(xué)成像
5.2.2基于并聯(lián)平衡殘差網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)的光學(xué)玻璃面板缺陷識(shí)別及分類的應(yīng)用
5.2.3基于并聯(lián)平衡殘差網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)的光學(xué)玻璃表面缺陷識(shí)別及分類的檢測(cè)結(jié)果
5.2.4基于輕量級(jí)網(wǎng)絡(luò)的缺陷像素級(jí)分割及定量計(jì)算方法
5.2.5基于輕量級(jí)網(wǎng)絡(luò)的缺陷像素級(jí)分割及定量計(jì)算檢測(cè)結(jié)果
5.3深度學(xué)習(xí)在復(fù)雜裝配件智能檢測(cè)中的應(yīng)用
5.3.1裝配體異常檢測(cè)的前向照明成像
5.3.2基于類別不平衡半監(jiān)督學(xué)習(xí)的裝配體異常分類算法
5.3.3基于類別不平衡半監(jiān)督學(xué)習(xí)的裝配體異常檢測(cè)結(jié)果
參考文獻(xiàn)
第6章光學(xué)表面缺陷成像的定量評(píng)估
6.1光學(xué)表面缺陷的測(cè)量和量化
6.1.1光學(xué)表面缺陷的可見度測(cè)量及量化
6.1.2光學(xué)表面缺陷的面積測(cè)量及量化
6.1.3光學(xué)表面缺陷標(biāo)準(zhǔn)評(píng)價(jià)方法
6.2基于數(shù)字化標(biāo)定技術(shù)的缺陷尺寸識(shí)別方法
6.2.1典型光學(xué)畸變
6.2.2典型光學(xué)畸變的標(biāo)定方法
6.2.3缺陷尺寸數(shù)字化標(biāo)定與識(shí)別
6.3基于散射光強(qiáng)分布特征的缺陷精密尺寸識(shí)別方法
6.3.1缺陷實(shí)際散射光強(qiáng)分布修正方法
6.3.2基于LASSO-DRT的缺陷尺寸識(shí)別算法
6.3.3基于極端隨機(jī)樹的缺陷尺寸識(shí)別算法
6.4表面缺陷密集度數(shù)字化計(jì)算方法
6.4.1表面缺陷密集度計(jì)算原理
6.4.2劃痕密集度計(jì)算方法
6.4.3麻點(diǎn)密集度計(jì)算方法
6.4.4表面缺陷檢測(cè)評(píng)估實(shí)例
參考文獻(xiàn)