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作物表型組學(xué)

作物表型組學(xué)

定  價(jià):62 元

        

  • 作者:楊萬能主編
  • 出版時(shí)間:2024/7/1
  • ISBN:9787040625974
  • 出 版 社:高等教育出版社
  • 中圖法分類:S33 
  • 頁碼:340
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:25.5cm
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本書根據(jù)智慧農(nóng)業(yè)相關(guān)專業(yè)的特點(diǎn),從教學(xué)需要、科研研發(fā)和實(shí)際應(yīng)用出發(fā),介紹了表型組學(xué)的現(xiàn)狀和展望。全書分為15章,包括緒論,可見光表型分析技術(shù),三維成像表型分析技術(shù),光譜表型分析技術(shù),CT、MRI、THz等表型分析技術(shù),地面表型平臺和分析技術(shù),無人機(jī)、航空和衛(wèi)星表型分析技術(shù),根系表型分析技術(shù),種子表型分析技術(shù),植物葉片氣孔表型測量技術(shù),作物圖像處理算法和應(yīng)用,深度學(xué)習(xí)在表型分析上的應(yīng)用,基于經(jīng)典數(shù)據(jù)挖掘技術(shù)的表型分析方法,表型數(shù)據(jù)管理與整合,表型與作物遺傳育種結(jié)合等內(nèi)容。本書每章附有思考題和推薦閱讀文獻(xiàn),理
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