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嵌入式處理器調(diào)試方法與案例分析
本書共分6章:第1章介紹了研究背景和主要內(nèi)容,對(duì)目前嵌入式處理器調(diào)試技術(shù)領(lǐng)域現(xiàn)狀進(jìn)行了概述,對(duì)多核處理器的調(diào)試挑戰(zhàn)進(jìn)行了分析;第2章對(duì)解決工程問題的通用調(diào)試方法進(jìn)行了論述,重點(diǎn)討論了集合與邏輯、概率與因果方法、邏輯樹與故障樹等方法,提出了基于概率故障樹的推理,并特別討論了質(zhì)量歸零的方法和步驟;第3章概述了調(diào)試的技術(shù)和工具,討論了處理器調(diào)試的模型,提出了一套調(diào)試的理論模型和基于影響要素的調(diào)試方法論;第4章對(duì)嵌人式處理器系統(tǒng)的核心設(shè)計(jì)問題進(jìn)行了分析論述;第5章結(jié)合10個(gè)經(jīng)典調(diào)試案例,對(duì)軟硬件多種調(diào)試過程進(jìn)行了深入描述和剖析;第6章對(duì)大量調(diào)試案例進(jìn)行了分類歸納并簡(jiǎn)要分析。
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