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專利視角下的半導體量檢測關鍵技術

專利視角下的半導體量檢測關鍵技術

定  價:99 元

        

  • 作者:國家知識產權局專利局專利審查協(xié)作江蘇中心
  • 出版時間:2024/9/30
  • ISBN:9787513094962
  • 出 版 社:知識產權出版社
  • 中圖法分類:G306 
  • 頁碼:228
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:16開
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本書創(chuàng)新性地開展“雙線聯(lián)動”和“雙維定位”特色分析,重點研究了半導體產業(yè)關鍵核心技術的專利布局脈絡和重點申請人布局情況,研究內容緊扣當下產業(yè)急需和未來發(fā)展趨勢,不僅可以為現(xiàn)有科研工作提供有力的支撐,而且為未來的科研工作提供了有效的科研情報信息。本書是了解該行業(yè)技術發(fā)展現(xiàn)狀并預測未來走向、幫助企業(yè)做好專利預警的必備工具書。
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