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專利視角下的半導體量檢測關鍵技術
本書創(chuàng)新性地開展“雙線聯(lián)動”和“雙維定位”特色分析,重點研究了半導體產業(yè)關鍵核心技術的專利布局脈絡和重點申請人布局情況,研究內容緊扣當下產業(yè)急需和未來發(fā)展趨勢,不僅可以為現(xiàn)有科研工作提供有力的支撐,而且為未來的科研工作提供了有效的科研情報信息。本書是了解該行業(yè)技術發(fā)展現(xiàn)狀并預測未來走向、幫助企業(yè)做好專利預警的必備工具書。
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