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基于離子通道理論建模的可靠性分析及退化數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)分析 
定 價(jià)：45 元
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9 7 1 8 3 7 5 5 9 6 6 6 4 讀者對(duì)象:本書(shū)適用于離子通道研究者
本書(shū)分兩部分共七章內(nèi)容, 第一部分介紹的是基于離子通道理論的可靠性建模分析; 第二部分介紹的是基于退化數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)分析。全書(shū)內(nèi)容包括: 離子通道理論與聚合隨機(jī)過(guò)程; 依據(jù)逗留時(shí)間分類(lèi)的聚合隨機(jī)模型狀態(tài)指標(biāo)分析; 多狀態(tài)聚合馬爾科夫模型及其指標(biāo)分析; 交替更新過(guò)程下具有工作時(shí)間和維修時(shí)間可忽略的聚合模型的研究; 具有兩個(gè)閾值限制的隨機(jī)模型指標(biāo)的研究; 基于性能退化數(shù)據(jù)的可靠性分析; 基于小樣本故障數(shù)據(jù)的可靠性建模與分析。
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