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芯片驗(yàn)證調(diào)試手冊(cè)——驗(yàn)證疑難點(diǎn)工作錦囊

芯片驗(yàn)證調(diào)試手冊(cè)——驗(yàn)證疑難點(diǎn)工作錦囊

定  價(jià):69 元

        

當(dāng)前圖書(shū)已被 68 所學(xué)校薦購(gòu)過(guò)!
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  • 作者:劉斌
  • 出版時(shí)間:2023/1/1
  • ISBN:9787121448454
  • 出 版 社:電子工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TN43-62 
  • 頁(yè)碼:240
  • 紙張:
  • 版次:01
  • 開(kāi)本:16開(kāi)
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讀者對(duì)象:本書(shū)面向在崗的芯片驗(yàn)證工程師,可作為日常桌邊工作手冊(cè)翻閱,也可用于工作之余查漏補(bǔ)缺以提高自身技術(shù)能力。

資深芯片驗(yàn)證專家劉斌(路桑)圍繞目前芯片功能驗(yàn)證的主流方法—?jiǎng)討B(tài)仿真面臨的日常問(wèn)題展開(kāi)分析和討論。根據(jù)驗(yàn)證工程師在仿真工作中容易遇到的技術(shù)疑難點(diǎn),本書(shū)內(nèi)容在邏輯上分為 SystemVerilog疑難點(diǎn)、UVM 疑難點(diǎn)和 Testbench 疑難點(diǎn)三部分。作者精心收集了上百個(gè)問(wèn)題,給出翔實(shí)的參考用例,指導(dǎo)讀者解決實(shí)際問(wèn)題。在這本實(shí)踐性很強(qiáng)的書(shū)中,作者期望能夠?qū)⒆髡吲c諸多工程師基于常見(jiàn)問(wèn)題的交流進(jìn)行總結(jié),以易讀易用的組織結(jié)構(gòu)呈現(xiàn)給讀者,目的是幫助芯片驗(yàn)證工程師更有效地處理技術(shù)疑難點(diǎn),加快芯片驗(yàn)證的調(diào)試過(guò)程。
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