可靠性·維修性·保障性技術叢書：測試性設計分析與驗證
定 價：56 元
- 作者：石君友 ，王自力 編
- 出版時間：2011/4/1
- ISBN：9787118072877
- 出 版 社：國防工業(yè)出版社
- 中圖法分類：TJ01
- 頁碼：341
- 紙張：膠版紙
- 版次：1
- 開本：16開
《可靠性·維修性·保障性技術叢書：測試性設計分析與驗證》從工程實際出發(fā)，系統(tǒng)地闡述了測試性設計分析、試驗與評價的思想和方法，包括測試性的基本概念、測試性定性要求和定量要求、診斷方案設計、測試性分配和預計、故障模式與測試分析、基于相關性模型的測試設計分析、測試性設計準則、機內測試設計、外部測試設計、測試性驗證與評價等，最后對測試性的新技術趨勢（綜合診斷、預測和健康管理）進行了綜述。
《可靠性·維修性·保障性技術叢書：測試性設計分析與驗證》可供工程技術人員和管理人員在開展測試性設計分析、驗證與評價時學習和參考，也可以作為培訓教材使用。同樣可供測試性專業(yè)人員、大專院校本科生及研究生學習和參考。
符號
縮略語
第1章 緒論
1.1 測試性基本概念
1.1.1 測試性定義
1.1.2 測試性技術框架
1.2 測試性的發(fā)展過程
1.2.1 測試性學科的形成
1.2.2 外部測試技術的發(fā)展過程
1.2.3 機內測試技術的發(fā)展過程
1.2.4 測試性技術的新趨勢
1.3 測試性的重要性及對系統(tǒng)特性的影響
1.3.1 測試性的重要性
1.3.2 對基本可靠性的影響
1.3.3 對任務可靠性安全性、成功性的影響
1.3.4 對維修性的影響
1.3.5 對綜合保障的影響
1.3.6 對戰(zhàn)備完好性的影響
1.3.7 對系統(tǒng)性能的影響
1.3.8 對系統(tǒng)壽命周期費用的影響
1.4 測試性參數(shù)
1.4.1 故障檢測率
1.4.2 關鍵故障檢測率
1.4.3 故障覆蓋率
1.4.4 故障隔離率
1.4.5 虛警率
1.4.6 平均虛警間隔時間
1.4.7 平均故障檢測時間
1.4.8 平均故障隔離時間
1.4.9 平均診斷時間
1.4.10 平均BIT運行時間
1.4.11 誤拆率
1.4.12 不能復現(xiàn)率
1.4.13 臺檢可工作率
1.4.14 重測合格率
1.4.15 剩余壽命
1.5 測試性術語
第2章 診斷方案與測試性要求
2.1 概述
2.1.1 診斷方案與測試性要求的關系
2.1.2 診斷方案與測試性要求發(fā)展
2.2 診斷方案的組成要素與制定程序
2.2.1 診斷方案的基本組成要素
2.2.2 典型診斷方案
2.2.3 診斷方案的制定程序
2.3 測試性要求的確定過程
2.3.1 測試性要求確定的具體過程
2.3.2 測試性要求確定過程示例
2.4 測試性要求分類
2.4.1 按定性、定量分類與示例
2.4.2 按測試手段分類與示例
2.4.3 按維修級別分類與示例
第3章 測試性分配
3.1 概述
3.1.1 目的和時機
3.1.2 分配的內容和任務
3.1.3 測試性分配原則
3.2 檢測與隔離要求的分配方法
……
第4章 故障模式與測試分析
第5章 基于相關性模型的測試性設計分析
第6章 機內測試設計
第7章 外部測試設計
第8章 測試性設計準則
第9章 測試性預計
第10章 測試性驗證與評價
第11章 測試性新技術綜述
參考文獻
6.5.5 其他方法
1）分布式BIT
分布式BIT方案也稱為聯(lián)合式BIT，即除在系統(tǒng)級進行必要的測試外，在外場可更換單元級（LRU-外場故障隔離的產(chǎn)品層次）都設置BIT。這樣，當BIT給出NOGO指示時，就把故障直接定位到故障的LRU。可避免用系統(tǒng)級測試經(jīng)過邏輯分析推斷發(fā)生故障的LRU時，可能導致的故障隔離錯誤。所以，分布式BIT方案可以減少I類虛警（錯報）。
對于LRU級設備，其BIT可用于故障檢測，驗證LRU級設備功能是否正常。如有故障，要隔離到SRU的話，則需要SRU級設計必要的BIT功能或測試點。這樣，可以減少對SRU級的故障隔離錯誤。
2）設計指南減少虛警問題是BIT設計的難點，現(xiàn)在還沒有一種簡單通用的防止虛警的設計方法。但是國外已有不少的BIT實際使用經(jīng)驗，國內外對BIT虛警的原因和防止方法也有所分析和建議。所以，總結、歸納有關BIT虛警問題的設計指導思想、基本方法和注意事項等，制定減少BIT虛警的設計指南或設計準則，在系統(tǒng)BIT設計過程中起指導作用。把防止虛警措施設計進去，可使BIT設計得更合理，從而可起到降低虛警率的作用。
目前在一些BIT設計指南、準則中，關于防止虛警的內容還很少。國外有的資料中提了幾條，也不夠充分。減少虛警的設計指南尚待進一步研究。
3）試驗分析改進
前面講的多數(shù)為減少虛警的設計方法，大多數(shù)BIT和診斷測試設備不論設計得多么好，都需要有一個鑒別缺陷、分析原因、實施修正的過程，經(jīng)過一定時間的試驗、試用、發(fā)現(xiàn)問題、分析改進，才能達到規(guī)定的性能水平。這是個與可靠性增長相似的測試性增長和診斷成熟的過程，這個成熟過程同樣適用于BIT和脫機測試。在確定用于測試模擬參數(shù)BIT測試容差時更是如此，通常要經(jīng)過較長的試驗過程才能設定合理的容差，以達到故障檢測和虛警的最佳平衡。
……
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