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一板成功——高速電路研發(fā)與設(shè)計典型故障案例解析

一板成功——高速電路研發(fā)與設(shè)計典型故障案例解析

定  價:39 元

        

當(dāng)前圖書已被 58 所學(xué)校薦購過!
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  • 作者:張晶威
  • 出版時間:2022/1/1
  • ISBN:9787302589235
  • 出 版 社:清華大學(xué)出版社
  • 中圖法分類:TN410.2 
  • 頁碼:140
  • 紙張:
  • 版次:1
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《一板成功——高速電路研發(fā)與設(shè)計典型故障案例解析》是面向硬件電路與系統(tǒng)的工程技術(shù)類書籍,通過對電子工程設(shè)計中的實際故障案例分析,幫助讀者形成硬件設(shè)計流程中電路調(diào)測和故障排查的方法體系。從研發(fā)設(shè)計人員的視角探求硬件電路與系統(tǒng)的測試測量、電路調(diào)試、故障分析以及解決方案,內(nèi)容涵蓋時鐘、電源、邏輯器件、總線、高速信號、測量技術(shù)等常規(guī)的硬件電路模塊。兼具理論性和工程實用性。
《一板成功——高速電路研發(fā)與設(shè)計典型故障案例解析》適合作為從事計算機(jī)、通信設(shè)備、高端儀器制造等行業(yè)的電路設(shè)計、開發(fā)專業(yè)工程師、研究人員的技術(shù)參考書,也可以作為電子科學(xué)技術(shù)、電子工程專業(yè)高年級本科生和研究生的參考用書。
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