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集成電路芯片測試技術

集成電路芯片測試技術

定  價:35 元

        

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  • 作者:居水榮 著
  • 出版時間:2021/4/1
  • ISBN:9787560659541
  • 出 版 社:西安電子科技大學出版社
  • 中圖法分類:TN407 
  • 頁碼:
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開本:16開
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本書是從微電子產(chǎn)業(yè)實際崗位需求出發(fā),結(jié)合作者多年企業(yè)工作經(jīng)驗及一線教學經(jīng)驗編寫而成的。書中詳細介紹了目前業(yè)界常見的各類集成電路芯片的測試原理、測試方法以及測試程序的編寫,具體包括各類組合/時序邏輯電路測試、ADC/DAC芯片測試、存儲器/微控制器測試、集成運放/電源管理芯片測試等,同時還介紹了晶圓探針臺、測試機的使用。


本書可作為高職院校微電子技術專業(yè)的核心課程教材,亦可作為全國職業(yè)院校技能大賽“集成電路開發(fā)及應用”賽項的備賽訓練參考教材。



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